檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "Yuan-Hsiang Lin".ecommittee (精準) and ckeyword.raw="可靠度"
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由於快閃記憶體具有有限的編程/抹除次數(P/E cycles)限制,通常在超過該上限次數後,逐漸不堪使用,而其核心原因來自於快閃記憶體單元內的寫穿(wear-out)現象,在此現象的影響下,任何資料…
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隨著科技的發展,NAND Flash Memory已經逐漸取代傳統硬碟(Hard Disk Drive, HDD),成為目前主流的儲存設備。NAND Flash Memory具有體積小、低功耗、讀寫…